瑞士METTLER TOLEDO梅特勒-托利多

XSE系列METTLER TOLEDO梅特勒-托利多分析天平XSE204 深圳廣州惠州東莞佛山維修服務上門點對點售后修理復原稱重

梅特勒<a href=/list-0-63.html target='_blank'>分析天平</a>XSE204

產(chǎn)品名稱：梅特勒分析天平XSE204

產(chǎn)品品牌：梅特勒XSE系列

產(chǎn)品型號：XSE204

產(chǎn)品規(guī)格：220g/0.1mg

產(chǎn)品價格：

XSE204梅特勒電子分析天平特點：

StatusLight? – 天平就緒

StatusLight 通過顏色直觀地指明天平的狀態(tài)

。綠色表示就緒，黃色表示警告，紅色表示錯誤

。清晰顯示的燈光表明天平是否已準備好開始執(zhí)行稱量任務

。

消除電荷—樣品無憂

一體化去靜電裝置固定到天平側(cè)面

，緩慢高效地去除靜電荷

，而不會導致稱量室內(nèi)干擾

。結(jié)果更加準確

，并可避免交叉污染

。

RFID 解決方案

Smart Tag RFID 標簽可實現(xiàn)滴定樣品信息安全地從天平傳輸至滴定儀。SmartScan?在帶有標記的移液器上檢查測試和校準日期

。內(nèi)置的應用程序向?qū)⒅笇瓿梢埔浩鳈z查過程

。

XSE 分析天平非常努力工作

XSE 分析天平提供卓越的稱量性能和品質(zhì)保證以及符合人體工程學設(shè)計，是各種工作場所完美可靠的解決方案

。

創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈 (StatusLight) 可免除您在稱量方面的擔憂

。清晰可見的綠色指示燈讓您知道何時開啟安全，所有的測試都始終保持最新

，天平水平且功能正常

。

XSE 天平配備各種選件和多個連接選項，適用于不同的稱量應用

。

瑞士設(shè)計與制造

，卓越的品質(zhì)值得您信賴。

LabX – 稱量過程盡在掌握

LabX 實驗室軟件提供關(guān)于天平觸摸屏的靈活的SOP 用戶向?qū)?div id="d48novz" class="flower left">

。自動?shù)據(jù)處理

、計算和生成報告，避免抄寫誤差并確保完全可追溯性

。

XSE204梅特勒電子分析天平產(chǎn)品特性

精確的結(jié)果

高分辨率技術(shù)

內(nèi)部校正和靈敏度測試

加載 5% 時的重復性

，10 μg

高效的操作

彩色觸摸屏

采用 11 種語言的用戶界面

易巧稱量件 (ErgoClip) 用于直接加樣

易于清潔

懸掛式網(wǎng)格秤盤 (SmartGrid)

動態(tài)圖形顯示 (SmartTrac) 指導的加樣至目標

稱量保證

圖形化水平控制系統(tǒng)和分級別警告最小稱量值 (MinWeigh) 保護測試管理器FACT 和 GWP 歷史與用戶及密碼保護

狀態(tài)指示燈 (StatusLight)

無縫過程

LabX 就緒

RFID 通信就緒

一體化去靜電裝置就緒

內(nèi)置 RS232 接口

第 2 接口選件插槽

XSE204 梅特勒電子分析天平選配件

去靜電裝置

一體化去靜電裝置可中和樣品和容器上的靜電荷，并且結(jié)構(gòu)緊湊（內(nèi)置在天平內(nèi)部）

。

易巧稱量組件 (ErgoClips)直接加樣至您的容器中

。ErgoClips 在您的天平上固定一系列不同外形的容器。

Smart Tag RFID 標簽

從您的天平通過滴定杯安全地傳輸?shù)味悠沸畔ⅰ?/span>

打印機

堅固耐用的 P-50 系列實驗室打印機在紙上進行具有存檔質(zhì)量的打印輸出和連續(xù)剝離標簽

。

EasyScan?

在帶有射頻識別 (RFID) 標記的移液器上檢查測試和校準日期

。當通過天平應用進行測試時，記錄新的測試日期

。

XSE104 梅特勒電子分析天平技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品品牌:

德國賽多利斯（Sartorius）瑞士梅特勒（Mettler) 上海卓精日本新光(Sinko/Vibra) 日本島津（Shimadzu）美國西特(Setra）美國奧豪斯（Ohaus）成都普瑞遜（Pris）臺灣英展山東蓬萊瑞士普利賽斯（Precisa）日本AND（And）百利達（TANITA) 神宇龍騰（SYLT) 天平打印機LP-50

類別:

天平打印機工業(yè)天平電子天平電子稱實驗室儀器黃金珠寶天平比重天平水分測定儀油漆秤防水

，防腐電子秤防爆、防塵電子秤電子吊秤電子地磅叉車秤砝碼其他

產(chǎn)品名稱	型號	產(chǎn)品品牌	產(chǎn)品參數(shù)
梅特勒分析天平XSE204	XSE204	梅特勒XSE系列	稱量： 220g 精度： 0.1mg 秤盤尺寸： 78*73 mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正
梅特勒分析天平XSE104	XSEXSE104	梅特勒XSE系列	稱量： 120g 精度： 0.1mg 秤盤尺寸： 78*73 mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正
梅特勒分析天平XSE105DU	XSE105DU	梅特勒XSE系列	稱量：41g / 120g 精度： 0.01mg/0.1mg 秤盤尺寸： 78*73 mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正
梅特勒分析天平XSE205DU	XSE205DU	梅特勒XSE系列	稱量：81g / 220g 精度： 0.01mg/0.1mg 秤盤尺寸： 78*73 mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正